Khảo sát sự biến đổi một số chỉ số điện thế kích thích thị giác trên trẻ nhược thị
Nội dung chính của bài viết
Tóm tắt
Nghiên cứu sử dụng phương pháp ghi điện thế kích thích thị giác bằng màn hình đảo PR-VEP trên 37 trẻ từ 4 đến 13 tuổi, được chẩn đoán nhược thị ở một hoặc cả hai mắt liên quan đến tật khúc xạ, nhằm khảo sát đặc điểm các sóng VEP. Kết quả cho thấy thời gian tiềm tàng của các sóng N75, P100, N145 ở nam và nữ tương ứng là 74,82 ± 5,10 ms và 72,66 ± 8,14 ms; 111,60 ± 10,31 ms và 110,62 ± 10,28 ms; 146,42 ± 10,25 ms và 152,07 ± 10,63 ms. Biên độ các sóng N75, P100, N145 ở nam và nữ tương ứng là 2,53 ± 2,03 µV và 2,34 ± 1,76 µV; 10,55 ± 5,07 µV và 10,20 ± 4,72 µV; 9,00 ± 5,88 µV và 8,87 ± 4,82 µV. Tần suất xuất hiện các sóng P100, N75 là 100%.
Chi tiết bài viết
Từ khóa
VEP, Nhược thị
Tài liệu tham khảo
Các bài báo được đọc nhiều nhất của cùng tác giả
- Lê Đình Tùng, Cơ chế phân tử và xu hướng nghiên cứu về học tập và trí nhớ hiện nay , Tạp chí Sinh lý học Việt Nam: Tập 18 Số 1 (2014)